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近红外分光辐射计高精度拓普康Topcon

更新时间:2019-12-30

简要描述:

日本SR-NIR近红外分光辐射计高精度拓普康Topcon本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用,能够测定380nm-1030nm的分光辐射亮度。 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。

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近红外分光辐射计高精度拓普康Topcon

日本SR-NIR近红外分光辐射计高精度拓普康Topcon日本SR-NIR近红外分光辐射计高精度拓普康Topcon

特征

 

■ 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。

 

■ 高精度测定近红外领域(600~1030nm)的分光分布。

 

■ 和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时,能够测定可见光~近红外光(380~1030nm)的分光分布。

主要用途

■ 观察各类FPD的近红外领域的输出。

 

■ 观察Ne、Ar的光谱线输出。

 

■ 光学膜等的近红外透过特性评价。

 

■ 其他光源的近红外分光测量

技术规格

光亮采集电子冷却型线性阵列传感器
波长分散原理衍射光栅
光学系统对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5°
测定角2°/1°/0.2°/0.1° (电动切换式)
最小测定直径(mmφ)2° : 10.0, 1° : 4.99, 0.2° : 1.00, 0.1° : 0.50 (mmφ)
测定距离350mm - ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)
测定波长范围600 - 1030nm
光谱波宽6 - 8nm (半波宽)
波长分解能力1nm
测定模式自动/手动 (积分时间/频率)、外部垂直同步信号输入
测定内容分光辐射亮度 : W・sr-1・m-2・nm-1
测定范围(*1)

2.0° : 0.5 - 3,000 cd/m2

1.0° :  1 - 9,000 cd/m2

0.2° : 20 - 70,000 cd/m2

0.1° : 100 - 300,000 cd/m2

重复精度(*2)±2% 以下
偏光特性分光辐射亮度 5% 以下
校正基准本公司校正基准*标准A光源、23℃±3℃、65% RH以下
测定时间(*3)约 1 - 31 秒
界面RS-232C, USB 2.0
电源专用AC电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz,
功率约 34W
使用条件温度: 5 - 35℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露)
外形尺寸(W×D×H)150×406×239mm
质量约 5.5kg

*1 本产品不测定亮度。记录针对标准A光源的参考值

 

*2 600~1030nm 针对本公司基准光源

 

*3 E和PC的通信时间除外

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